میکروسکوپهای پروبی روبشی (به انگلیسی: SPM:Scanning probe microscopy) از یک پروب که بر روی نمونه حرکت میکند، برای بررسی سطح نمونهها استفاده میکنند. با استفاده از این میکروسکوپها علاوه بر توپوگرافی سطح، میتوان راجع به اصطکاک، مغناطش، خواص حرارتی و الاستیسیتهی سطح نیز اطلاعاتی بدست آورد که با استفاده از روشهای دیگر قابل دستیابی نیستند. در این میکروسکوپ، نوک یک پروب سالم و ایده آل، بسیار تیز بوده، بطوریکه در نوک آن تنها یک اتم...
میکروسکوپ الکترونی روبشی یا SEM نوعی میکروسکوپ الکترونی است که قابلیت عکسبرداری از سطوح با بزرگنمایی ۱۰ تا ۵۰۰۰۰۰ برابر با قدرت تفکیکی کمتر از ۱ تا ۲۰ نانومتر (بسته به نوع نمونه) را دارد. نخستین تلاشها در توسعهٔ میکروسکوپ الکترونی روبشی به سال ۱۹۳۵ بازمیگردد که نول و همکارانش در آلمان پژوهشهایی در زمینهٔ پدیدههای الکترونیک نوری انجام دادند. آرْدِن در سال ۱۹۳۸ با اضافه کردن پیچههای جاروبکننده به یک میکروسکوپ...